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加速半導體晶圓測試量產 是德推並聯參數測試系統

責任編輯 吳家瑜 報導
發佈時間:2021/12/17 10:33
最後更新時間:2021/12/17 10:33
(示意圖/shutterstock 達志影像)
(示意圖/shutterstock 達志影像)

半導體晶圓供貨吃緊,量測設備大廠是德科技(Keysight)布局半導體高速晶圓測試,推出並聯參數測試系統,協助加速晶圓量產。

全球半導體晶圓供貨持續吃緊,是德科技表示,市場對半導體晶圓需求有增無減,晶圓短缺對汽車、數位裝置和家用電器產業衝擊加劇;此外半導體產業技術不斷提升,包括採用新材料、微型化技術和3D封裝製程,面臨各種技術挑戰,加上5G、資料中心、人工智慧(AI)和汽車等應用晶片元件設計越來越高階,工程師需進行測試的參數也越來越複雜,這些因素使得提升高速晶圓測試效能更為關鍵。

 

若要協助半導體廠商快速提升晶圓產能,是德科技指出,能夠落實高量測速率的並聯參數測試系統更為重要,在功能上,並聯測試資源選項要多且靈活,因應每個測試資源上進行參數測試所需,此外並聯參數測試系統的軟體要與其他測試系統規格軟體相容,讓廠商利用現有的測試程式和測試計畫,比對資料關聯性。

法人指出,在5G、半導體、人工智慧、綠能、航空航太和國防等產業驅動下,電子測量儀器應用領域不斷擴大,全球通用電子測試測量儀器市場穩定成長,預估到2024年全球市場規模可到77.68億美元,年複合成長率約4.89%。(中央社)
 

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#是德科技#半導體#是德#晶圓#人工智慧#晶片荒

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