台積電CoWoS封裝產品良率達98% 令外媒驚嘆原因曝
- 編譯:廖國安
- 發佈時間:2026.08.13 12:26
- 最後更新時間:2026.08.13 12:26
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台積電部分CoWoS封裝產品良率已達98%至99%。(示意圖/達志影像shutterstock)
台積電先進封裝技術再傳捷報,台積電副總經理何軍近日透露,該公司部分CoWoS封裝產品良率已達98%至99%,這項成果適用於多款AI相關產品,而現在採用5.5倍光罩尺寸技術。台積電更計畫於2029年前將封裝技術擴展至14倍光罩尺寸。此消息引發外媒關注,因封裝面積若愈大,缺陷機率通常愈高,能達到如此高良率相當難得。
CoWoS良率衝上98%
據《wccftech》報導,何軍指出,目前台積電CoWoS技術可將多顆運算晶片與記憶體晶片整合,製作出尺寸達單一晶片5.5倍的封裝成品。由於封裝面積更大,且需整合多顆晶片,最終產品出現缺陷的機率也會提高。
常見缺陷包括底部填充材料產生氣泡,以及晶片接合用凸塊位置偏移。何軍指出,當封裝尺寸擴大至超過單一光罩尺寸3倍後,對封裝內晶片與元件的耐熱性、機械強度等要求也會隨之提高,相關規格甚至必須達到或超越車用等級標準。
何軍表示,封裝內部各項元件在產品開發階段,就必須依照整體封裝的機械、熱能及其他條件進行設計與驗證,才能確保完成封裝後穩定運作。台積電目前CoWoS技術已推進至5.5倍光罩尺寸,並計畫持續擴大封裝能力,目標在2029年前進一步提升至14倍光罩尺寸。

















